飞行时间二次离子质谱_专用仪器仪表_仪器/仪表_供应

品牌科睿设备	有效期至长期有效	最后更新2023-01-12 13:08
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飞行时间二次离子质谱

飞行时间二次离子质谱是一种灵敏的表面分析技术，可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素，分子等结构信息。

技术参数：

.并行探测所有离子，包括有机和无机分子碎片。

.无限的质量探测范围（实际测量中大于1000m/z原子量单位）。

.*透过率下实现高的质量分辨率。

.高的横向和纵向空间分辨率（横向小于100纳米，纵向小于1纳米）。

.探测灵敏度可达ppm或ppb量级。

.质量探测分辨率(M/ΔM)>1000

.质量探测准确度≥20milli质量单位

.反射性分析器

.5分钟样品腔真空度可从大气环境达到真空工作环境

主要特点：

.超高的表面灵敏度(1x109atoms/cm2)

·操作简单(?daytraining)

·1分钟分析，样品处理流程<7分钟

·导体和绝缘体表面均可测试

·可得到元素和分子信息

·从元素中分离出普通有机物

·正电和负电的二次离子质谱

·同位素分析

·分析面积~0.5mm

·溅射预清洗表面

·提供材料数据库
更多详情：http://www.airtest.net.cn/Products-30752620.html
https://www.chem17.com/st17159/product_30752620.html

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