X-RAY镀层测厚仪性能特点

X-RAY镀层测厚仪是专门用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能Q大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。X-RAY镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的B要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。

工作原理：
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

性能特点：
1、较好的射线屏蔽作用。
2、测试口高度敏感性传感器保护。
3、高分辨率探头使分析结果更加。
4、满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。
5、φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。
6、***精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm。
7、采用高度定位激光，可自动定位测试高度。
8、定位激光确定定位光斑，确***测试点与光斑对齐。

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