VT4002主要技术参数指标

外型尺寸（约） 510×450×650mm （深×宽×高）

温度范围 -40℃～+130℃

温度波动度 ≤±0.5℃

温度偏差 ≤±1.0℃

温度均匀度 ≤±2.0℃

降温速率 +25℃～-40℃ ≤50分钟（空载时）

升温速率 +25℃～+130℃≤50分钟（空载时）

功率（约） 总功率约1.5KW

噪音 A声级≤68dB(A)离测试设备大约1米无阻隔位置

测试环境条件 环境温度为+5℃～+35℃；相对湿度≤85%RH

VT4002高低温试验箱在电子与半导体技术的可靠性验证     

电子器件与半导体产品对温度敏感性极高，小型高低温试验箱在此类研究中发挥了核心作用。西安电子科技大学在芯片可靠性测试中，采用VT4002高低温试验箱模拟-40℃至125℃的循环冲击环境，检测芯片在极端温度下的电学性能稳定性，成功优化了军用雷达芯片的设计方案。 

而中国科学技术大学苏州高等研究院则聚焦半导体材料的高低温耐久性测试，通过精准控制温度波动（±0.5℃），评估了新型氮化镓材料在高温环境下的热失效阈值，为新能源电力电子器件的开发奠定了基础。