FIB双束扫描电镜

Helios 5 DualBeam FIB双束扫描电镜经过精心设计，可满足材料科学研究人员和工程师对广泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是具挑战性的样品。

  Helios 5 DualBeam FIB双束扫描电镜重新定义了高分辨率成像的标准：高材料对比度，快、简单、准确的高质量样品制备，用于 S/TEM 成像和原子探针断层扫描（APT）以及高质量的亚表面和 3D 表征。在 Helios DualBeam 系列久经考验的性能基础上，新一代的 Helios 5 DualBeam 进行了改进优化，所有这些都旨在确保系统处于手动或自动工作流程的运行状态。 

 北京欧波同光学技术有限公司成立于2003年，是一家材料分析数字化解决方案服务商。旗下拥有科学仪器、智慧实验室、第三方检测、技术服务等业务板块。欧波同坚持“让实验更简单"的发展主线，充分掌握计算机视觉和图像识别技术，实现AI技术和工业分析技术的跨界融合，帮助中国企业在竞争中取得成功。为世界材料分析贡献中国力量！

 
更多信息：FIB双束扫描电镜

http://www.opton17.com/Products-34291948.html
https://www.chem17.com/st439186/product_34291948.html